3 半自动双道原子荧光光谱仪 型号:JKY/640/M315856 库号：M315856   

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微区X射线荧光光谱分析技术是对不均匀样品、不规则样品、甚至小件样品和包裹物进行高灵敏度的、非破坏性的元素分析的首选方法。

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分 析 范 围: 1PPM-99.99

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测量元素：从硫到铀等 75 种元素 元素含量分析范围：1ppm-99.99 RoHS 指令规定的有害元素（限 Cd/Pb/Cr/Hg/Br）检测限高达 1ppm 测量时间：60-300s 能量分辨率：165±5eV 管压：5-50 kV 管流：50-1000μA

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专业RoHS检测 内置信噪比增强器，可有效提高仪器信号处理能力25倍以上

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ZSX Primus III+ X射线荧光光谱仪X射线管位于分析样品上方，zei大程度减少了真空室内飘散粉末损坏光管的风险，并且无需在进行粉末样品分析时使用粘合剂，使样品制备更快捷简便。

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快速/坚固/可靠，超一流的分析工具，表现更出色！X射线荧光(XRF)分析是全世界认可的有效快速鉴定矿山中关键矿物质成分的方法。其速度、灵活性和操作简单的特点使之成为当今专业采矿人员和矿物质学家的首选工具。X-MET7000系列手持式分析仪提供坚固的现场分析，适用于恶

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 仪器介绍针对EDX1800在各个领域的广泛应用，根据优化产品性能和提高安全防护等级的需求，特别设计该款EDX1800B。应用新一代的高压电源和X光管，提高产品的可靠性；利用新X光管的大功率提高仪器的测试效率。性能特点下照式：可满足各种形状样品的测试需求准直器和滤光片

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